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X射線鍍鋅鎳測厚儀

更新時間:2024-01-20

簡要描述:

X射線鍍鋅鎳測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

XRF鍍層測厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等,主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。

X射線鍍鋅鎳測厚儀性能優勢

精密的三維移動平臺
樣品觀測系統
良好的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結果

X射線鍍鋅鎳測厚儀技術指標

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用良好的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度 15℃~30℃

 

天瑞儀器將以“行業技術”的姿態,不斷探究世界分析領域的。為客戶提供更加良好的產品和更加滿意的服務,同時為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等眾多行業提供更為完善的行業整體解決方案,從而推動中國經濟快速化。

   公司被授予 “國家火炬計劃重點技術企業”,“江蘇省技術企業”,“江蘇省軟件企業”,“江蘇省科技創新示范企業”,“江蘇省規劃布局內重點軟件企業”,“江蘇省光譜分析儀器工程技術研究中心”等榮譽稱號。產品具有技術水平,X熒光光譜儀系列產品被認定為“國家重點新產品”和“江蘇省高新技術產品”。產品品種齊全,為環境保護與安全、工業測試與分析及其它領域提供專業解決方案。

 

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