• 企業類型：制造商
• 新舊程度：全新
• 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
• 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
• 探測器：Si-Pin探測器
• 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
• 準直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準直器
• 溫度要求：15℃至30℃。
• 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
• 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm

軟件優勢

鍍層厚度熒光檢測儀采用天瑞軟件研發團隊研發的能量色散X熒光FpThick軟件，良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作。譜圖區域采用動態模式，測試時元素觀察更直觀。

軟件具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

參數規格

1   分析元素范圍：S-U

2   同時可分析多達5層以上鍍層

3   分析厚度檢出限達0.005μm

4   多次測量重復性可達0.01μm

5   定位精度：0.1mm

6   測量時間：30s-300s

7   計數率：1300-8000cps8   Z軸升降范圍：0-140mm9   X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D) 

性能特點

1.滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，可以對同一鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動平臺可準確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自動定位測試高度5.定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊6.鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點7.高分辨率探頭使分析結果更加準確8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳感器保護 

測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行準確定位測試，其測試位置如圖。 結論

實驗表明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結果準確度高，速度快（幾十秒），其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1.光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-20052.X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005

3.庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

Thick800A鍍層厚度熒光檢測儀是天瑞儀器銷量的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結構，測試準確，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務可靠及時。

儀器配置

1 硬件：主機壹臺，含下列主要部件： 

①X光管                    

②半導體探測器

③放大電路                  

④高精度樣品移動平臺

⑤高清晰攝像頭             

⑥高壓系統

⑦上照、開放式樣品腔        

⑧雙激光定位⑨玻璃屏蔽罩

2 軟件：天瑞X射線rel="nofollow" 熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

3 計算機、打印機各一臺計算機（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機（佳能，彩色噴墨打印機）

4 資料：使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。

5 標準附件準直孔：0.1X1.0mm（已內置于儀器中）

測量標準

1.國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

應用行業

1.電子半導體行業接插件和觸點的厚度測量2.印刷線路板行業功能鍍層厚度測量3.貴金屬首飾手表行業鍍層厚度測量

4.五金電鍍行業各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量